Thermal Moduleの「その他の試験条件」は損失計算に使用されますか? 2025年09月25日 05:01 更新 はい、使用されています。 Eon/Eoffのスケーリングに使用されますので、損失計算に使用されています。 内部の具体的な計算式については非公開となっておりますので、 ご理解いただけますようお願いいたします。 関連記事 Thermal-Module:MOSFET(database)の使い方 永久磁石同期機のインターフェース2種類(電圧型と電流型)はどう違いますか? Cブロックで外部のファイルを読み込むと日本語が文字化けする Thermal Moduleの「Rg_on(turn-on)」と「Rg_off(turn-off)」の値は 損失の計算に使用しますか? PSIMの周波数特性解析について